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消除荧光测定中内滤效应的新装置及测试新方法
| 专利名称： | 消除荧光测定中内滤效应的新装置及测试新方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种消除荧光测定中的内滤效应的新装置及测试的新方法。它通过实验来 测定内滤效应实际的影响程度，从而消除其影响，该方法操作简单便捷、经济适用、结果可 靠、可以解决以前方法中所存在的问题。其结构为：它包括由样品池和吸收池构成的荧光分 光光度计用光路装置，所述该光路装置中吸收池为L型，样品池为正方型，L型吸收池半包 围样品池，且样品池的宽度为吸收池宽度的两倍。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 山东大学 |
| 发明人： | 刘汝涛;潘星任;宗万松;秦鹏飞;滕 跃;池振兴 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-06-04T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910015755.8 |
| 公开号： | CN101581668 |
| 代理机构： | 济南圣达专利商标事务所有限公司 |
| 代理人： | 张 勇 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I |
| 申请人地址： | 250100山东省济南市历下区山大南路27号 |
| 主权项： | 1.一种消除荧光测定中的内滤效应的光路系统新装置，它包括由样品池和吸收池构成的 荧光分光光度计用光路装置，其特征是，所述该光路装置中吸收池为L型，样品池为正方型， L型吸收池半包围样品池，且样品池的宽度为吸收池宽度的两倍。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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