原文传递
点灯测试机分类待测面板的等级之方法
| 专利名称： | 点灯测试机分类待测面板的等级之方法 |
| 摘要： | 本发明主要涉及一种点灯测试机分类待测面板的等级之方法，尤其是指 一种对待测面板的等级进行快速分类的方法，其分类模式系第一模式及第二 模式，点灯测试机分类时系择一使用第一模式或第二模式；当该点灯测试机 系第一模式时，判断待测面板是否有缺陷，如无缺陷，则给予该待测面板最 高等级，如有缺陷，输入待测面板的缺陷资讯并给予待测面板第一分类。当 点灯测试机系第二模式时，判断待测面板的分类等级系第二分类或第三分 类，如待测面板系第二分类时，让待测面板通过，如待测面板系第三分类 时，输入待测面板的缺陷资讯，并让待测面板通过。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深超光电（深圳）有限公司 |
| 发明人： | 王 瑾;庄涂城 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-05-16T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810028147.6 |
| 公开号： | CN101581677 |
| 代理机构： | 东莞市中正知识产权事务所 |
| 代理人： | 侯来旺 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I |
| 申请人地址： | 518109广东省深圳市宝安区龙华镇民清路伍屋工业区东富龙民清宿舍1楼 |
| 主权项： | 1.一种点灯测试机分类待测面板的等级之方法，其特征在于，其包括下列 步骤： 选择一点灯测试机的分类模式为第一模式或第二模式； 当该点灯测试机系第一模式； 判断一待测面板是否有缺陷，如无缺陷，则给予该待测面板一最高等级， 如有缺陷，输入该待测面板的缺陷资讯并给予该待测面板一第一分类； 当该点灯测试机系第二模式； 判断一待测面板的分类等级系第二分类或第三分类，如该待测面板系第二 分类时，让该待测面板通过，如该待测面板系第三分类时，输入该待测面 板的缺陷资讯，并让该待测面板通过。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
