专利名称: | 波长确定方法以及分析装置 |
摘要: | 本发明所涉及的分析装置(1)具备测光部(19),其对具有两 种以上的浓度的确定用试样的各吸光度进行测量,该确定用试 样具有在包含作为确定对象的波长的波长域上具有单调的倾斜 度的吸光度特性;以及确定部(34),其求出表示由测光部(19) 测量的确定用试样的浓度和吸光度的关系的直线的斜率,根据 基准斜率与所运算出的斜率的一致程度,确定测光部(19)实际 测量的光的波长,其中,该基准斜率为对一个以上的波长预先 求出的表示确定用试样的浓度与吸光度的关系的直线的斜率。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 奥林巴斯株式会社 |
发明人: | 冈林理 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2007-11-22T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200780049781.1 |
公开号: | CN101583862 |
代理机构: | 北京林达刘知识产权代理事务所 |
代理人: | 刘新宇 |
分类号: | G01N21/27(2006.01)I |
申请人地址: | 日本东京都 |
主权项: | 1.一种分析装置,该分析装置根据试样的光学特性来分析 该试样,其特征在于,具备: 测量单元,其对具有两种以上的浓度的确定用试样的各吸 光度进行测量,该确定用试样具有在包含作为确定对象的波长 的波长域上具有单调的倾斜度的吸光度特性; 运算单元,其求出表示由上述测量单元测量的上述确定用 试样的浓度与吸光度的关系的直线的斜率;以及 确定单元,其根据基准斜率与由上述运算单元运算出的斜 率的一致程度,确定上述测量单元实际测量的光的波长,其中, 上述基准斜率为对一个以上的波长预先求出的表示上述确定用 试样的浓度与吸光度的关系的直线的斜率。 |
所属类别: | 发明专利 |