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原文传递分析方法以及分析装置

专利名称：	分析方法以及分析装置
摘要：	分析方法对由树脂材料形成的分析用基板(1)照射激光，所述分析用基板具有捕捉有检测对象物质(11)和微粒子(20)的反应区域(10)，所述微粒子(20)是用于标识检测对象物质(11)的金属化合物(步骤S2)。分析方法提取接受来自分析用基板(1)的反射光生成的信号电平作为基板信号电平(DL)(步骤S4)。分析方法接受来自反应区域(10)的反射光并生成受光电平信号(JS)(步骤S6)。分析方法提取反应区域(10)中比来自分析用基板(1)的反射光的受光电平高的信号电平的受光电平信号(JS)作为微粒子检测信号(KS)(步骤S7)。分析方法基于提取的微粒子检测信号(KS)来检测微粒子(20)(步骤S8)。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	JVC 建伍株式会社
发明人：	小野雅之;系长诚;长谷川祐一;辻田公二;岩间茂彦
专利状态：	有效
申请号：	CN201780026892.4
公开号：	CN109154608A
代理机构：	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人：	刘军
分类号：	G01N33/543(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N33
申请人地址：	日本神奈川县
主权项：	1.一种分析方法，其特征在于，对具有反应区域的分析用基板照射激光，所述反应区域捕捉有检测对象物质和微粒子，所述微粒子是用于标记所述检测对象物质的金属化合物，所述分析用基板由树脂材料形成，提取接受来自所述分析用基板的反射光来生成的信号电平作为基板信号电平，接受来自所述反应区域的反射光来生成受光电平信号，提取在所述反应区域中比所述基板信号电平高的信号电平的受光电平信号作为微粒子检测信号，基于提取的微粒子检测信号检测所述微粒子。
所属类别：	发明专利