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信号与背景波长同时检测的元素光谱分析方法
| 专利名称： | 信号与背景波长同时检测的元素光谱分析方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种信号与背景波长同时检测的元素光谱分析方法，该方法包括如下步 骤：A.激光器输出激光并照射到待测品上，待测品内元素分解的同时向外发射光线；B. 从待测品传出的发射光线输入单色仪内，并经单色仪内的分束片进行分束；C.经分束片分 束的光线分别传输至两个出射狭缝；D.两个光电转换元件将两个出射狭缝处的光强信号转 换为电信号，并将两个电信号传输至信号处理装置，由信号处理装置同时对两个信号进行 处理。本发明检测分析的效率高，误差小。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 广州市计量检测技术研究院;华南理工大学;中山大学 |
| 发明人： | 周伦彬;蔡永洪;李润华;赵 芳;周建英;王自鑫 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-07-03T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910040815.1 |
| 公开号： | CN101592610 |
| 代理机构： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 |
| 代理人： | 谢 伟;秦雪梅 |
| 分类号： | G01N21/63(2006.01)I |
| 申请人地址： | 510520广东省广州市萝岗区科学城尖塔山路19号 |
| 主权项： | 1、信号与背景波长同时检测的元素光谱分析方法，其特征在于，该方法至少包括如下步骤： A、激光器输出激光并照射到待测品上，待测品内元素分解的同时向外发射光线； B、从待测品传出的发射光线输入单色仪内，并经单色仪内的分束片进行分束； C、经分束片分束的光线分别传输至两个出射狭缝； D、两个光电转换元件将两个出射狭缝处的光强信号转换为电信号，并将两个电信号传 输至信号处理装置，由信号处理装置同时对两个信号进行处理。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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