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一种基于材料显微组织图像的介观层次裂纹自动统计方法
| 专利名称： | 一种基于材料显微组织图像的介观层次裂纹自动统计方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于材料显微组织图像的介观层次裂纹自动统计方法， 属于介观层次材料科学领域，能够简便且准确地对裂纹进行定量统计。首先对 材料显微组织图像进行灰度矩阵处理，建立与材料显微组织图像像素点相对应 的有限元网格单元，根据生成的有限元网格单元，搜索所有的裂纹单元。然后， 根据搜索结果，识别出有限元网格中的所有裂纹条，并赋予裂纹编号；最后统 计每条裂纹的长度与角度，并将各裂纹条的数据信息输出到结果文件。采用本 发明方法，可得到实际材料显微组织中裂纹的形状和分布，包括裂纹的条数、 长度和角废，并可直接用于介观层次的材料性能有限元数值模拟中，从而进一 步研究裂纹长度、取向等与基本物理、力学性能的关系。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京理工大学 |
| 发明人： | 范群波;王富耻;华 丹;马 壮;王全胜;沈 伟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-06-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910087840.5 |
| 公开号： | CN101604357 |
| 代理机构： | 北京理工大学专利中心 |
| 代理人： | 张利萍 |
| 分类号： | G06F19/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100081北京市海淀区中关村南大街5号 |
| 主权项： | 1、一种基于材料显微组织图像的介观层次裂纹自动统计方法，其特征在于 包括以下步骤： 步骤一、对材料显微组织图像进行灰度矩阵处理，建立与材料显微组织图像 像素点相对应的有限元网格单元；根据生成的有限元网格单元，搜索所有的裂 纹单元； 步骤二、根据步骤一的搜索结果，识别出有限元网格中的所有裂纹条，并赋 予裂纹编号； 步骤三、根据步骤二的识别结果，统计每条裂纹的长度与角度，并将各裂纹 条的数据信息输出到结果文件。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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