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实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置和测量方法
| 专利名称： | 实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置和测量方法 |
| 摘要： | 一种实时观察的单束双模参数可调型Z扫描装置和测量方法，主要由参 数调制部分，数据采集部分以及观察部分组成。在参数调制部分中，激光通 过可调节衰减片以及声光调节器之后变为功率脉冲可调型的激光束，由透镜 聚焦到样品表面；在数据采集部分，样品后表面的出射光通过分光棱镜分为 两束，其中一束光直接进入探测器，得到材料的非线性吸收；另一束通过一 个中心与光轴同轴的小孔光阑进入另一个探测器，得到材料的非线性折射； 在观察部分中，在装置的光路上增加冷光源的照明装置，以便在实验中实时 观察作用点的变换情况。本发明实现简单，可获得不同条件材料的非线性吸 收率和非线性折射率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 发明人： | 刘 静;魏劲松 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-07-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910054823.1 |
| 公开号： | CN101608999 |
| 代理机构： | 上海新天专利代理有限公司 |
| 代理人： | 张泽纯 |
| 分类号： | G01N21/17(2006.01)I |
| 申请人地址： | 201800上海市800-211邮政信箱 |
| 主权项： | 1、一种实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置，特征在于其构成包括 激光器(1)，沿该激光器(1)输出激光前进的主光路方向依次是第一可调衰 减片(2)、声光调制器(3)、第一孔径光阑(5)、第一分光棱镜(8)、第二 分光棱镜(9)、第一聚焦透镜(11)、待测样品(12)、第二聚焦透镜(14)、 第三分光棱镜(15)、第二小孔光阑(18)和第三探测器(19)，该第三探测 器(19)的输出端与计算机(20)的输入端相连；所述的第一聚焦透镜(11) 和第二聚焦透镜(14)共焦，所述的待测样品(12)位于样品控制台(13) 上且该待测样品(12)表面垂直于所述的主光路，置于所述的第一聚焦透镜 (11)和第二聚焦透镜(14)共焦点附近； 所述的声光调制器(3)与信号发生器(4)相连，由第一可调衰减片(2)、 声光调制器(3)和信号发生器(4)组成参数调制部分； 在所述的第一分光棱镜(8)的一侧垂直于所述的主光路方向设置冷光源 (6)，该冷光源(6)发出的光经第一分光棱镜(8)反射后沿所述的主光路 经第二分光棱镜(9)进入所述的第一聚焦透镜(11)，在所述的第一分光棱 镜(8)的另一侧垂直于所述的主光路方向设置第一探测器(7)，该第一探测 器(7)的输出端与所述的计算机(20)的输入端相连； 在所述的第二分光棱镜(9)的一侧垂直于所述的主光路方向设置滤光片 (21)和CCD(10)； 在所述的第三分光棱镜(15)的一侧垂直于所述的主光路方向依次设置 第二可调衰减片(16)、凸透镜(22)和第二探测器(17)，该第二探测器(17) 的输出端与所述的计算机(20)的输入端相连； 所述的计算机(20)的输出端与所述的样品控制台(13)的控制端相连。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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