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重量检查装置和具有它的重量检查系统
| 专利名称： | 重量检查装置和具有它的重量检查系统 |
| 摘要： | 本发明提供重量检查装置和具有它的重量检查系统，该重量检查 装置能够高精度地计算被检查物的重量。在X射线检查装置(10)中， 根据从外部取得的商品(G)的实际重量值和在形成于控制计算机(30) 内的各功能块(41～44)中计算出的商品(G)的推定重量，偏差量计 算部(45)计算出推定重量与实际重量的偏差的大小。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 株式会社石田 |
| 发明人： | 广瀬修 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-02-06T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200880004504.3 |
| 公开号： | CN101611296 |
| 代理机构： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 龙 淳 |
| 分类号： | G01G9/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 日本京都府 |
| 主权项： | 1.一种重量检查装置，其检测对被检查物照射的能量波，从而计 算所述被检查物的推定重量，该重量检查装置的特征在于，包括： 重量值取得部，其取得所述被检查物整体的实际的重量； 照射部，其对所述被检查物照射能量波； 检测部，其检测对所述被检查物照射的能量波； 推定重量计算部，其根据所述检测部的检测结果，计算所述被检 查物整体的推定重量；和 偏差量计算部，其计算所述实际的重量与所述推定重量的偏差值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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