详情

原文传递一种X射线荧光激发检测装置

专利名称：	一种X射线荧光激发检测装置
摘要：	本发明的一种X射线荧光激发检测装置，属于载流X射线荧光品位分析技术领域。该X 射线荧光激发检测装置用于检测矿物样品中的矿物品位，其包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高的优点。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京矿冶研究总院
发明人：	周俊武;赵建军;徐宁;曾荣杰
专利状态：	有效
申请日期：	2009-07-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910089897.9
公开号：	CN101614684
代理机构：	北京凯特来知识产权代理有限公司
代理人：	郑立明
分类号：	G01N23/223(2006.01)I
申请人地址：	100044北京市西直门外文兴街1号北京矿冶研究总院科研处
主权项：	1、一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，其特征在于，该装置包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。
所属类别：	发明专利