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原文传递颗粒粒度测试样品池

专利名称：	颗粒粒度测试样品池
摘要：	本实用新型提供一种颗粒粒度测试样品池，属于颗粒粒度测试设备配件领域，其结构包括一能透光的样品池体，样品池体为中空结构，其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。使用时，在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器，经扩束汇聚的激光束从无透镜的平面入射样品池，颗粒的前向散射信息由通常的半圆环探测器检测，颗粒的侧向散射与后向散射信息由条带状阵列探测器检测，由此获得全方位颗粒散射的信息。本实用新型的颗粒粒度测试样品池与现有技术相比，其测试的最大散射角为135度，测试范围内无死角；且管道横截面大，流量大，因而利于在线粒度测试，可大大提高激光粒度仪的分析精度。
专利类型：	实用新型专利
国家地区组织代码：	山东;37
申请人：	任中京
发明人：	任中京
专利状态：	有效
申请日期：	2008-12-18T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200820227513.6
公开号：	CN201322714
代理机构：	济南信达专利事务所有限公司
代理人：	姜明
分类号：	G01N15/02(2006.01)I
申请人地址：	250100山东省济南市高新区大学科技园北区F区二单元
主权项：	1、颗粒粒度测试样品池，包括能透光的样品池体，其特征在于，样品池体为中空结构，其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。
所属类别：	实用新型