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原文传递 高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法
专利名称: 高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法
摘要: 高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法,属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于:在样品池(1)的后侧依次设置有透镜(2)、激光器(4)和GRIN透镜(6),GRIN透镜(6)的输出端连接光电倍增管(10)的输入端,光电倍增管(10)的输出端连接光子相关器(11)的输入端;还设置有用于调节GRIN透镜(6)与样品池(1)之间间距的透镜调节装置,所述GRIN透镜(6)置于透镜调节装置内。通过本高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法,入射光和散射光均位于样品池后侧,因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品,减小了散射光程,降低了多次光散射效应,实现了高浓度样品的颗粒粒度测量。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 山东;37
申请人: 山东理工大学
发明人: 刘伟;秦福元;王雅静;申晋;马立修;陈文钢
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201811295092.5
公开号: CN109030299A
代理机构: 淄博佳和专利代理事务所 37223
代理人: 孙爱华
分类号: G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02
申请人地址: 255086 山东省淄博市高新技术产业开发区高创园A座313室
主权项: 1.高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置,包括样品池(1),测试样品位于样品池(1)内,其特征在于:在样品池(1)的后侧依次设置有透镜(2)、激光器(4)和GRIN透镜(6),激光器(4)射出的入射光经透镜(2)进入样品池(1),散射后形成散射光自样品池(1)后端射出进入GRIN透镜(6),GRIN透镜(6)的输出端连接光电倍增管(10)的输入端,光电倍增管(10)的输出端连接光子相关器(11)的输入端;还设置有用于对GRIN透镜(6)接收散射光的位置进行调节的透镜调节装置,所述GRIN透镜(6)置于透镜调节装置内。
所属类别: 发明专利
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