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一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法
| 专利名称： | 一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法 |
| 摘要： | 一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法，属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（5）、激光器（8）和GRIN透镜（9），GRIN透镜（9）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节透镜（5）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述透镜（5）置于透镜调节装置内。通过本后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法，入射光和散射光均位于样品池后侧，因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品，减小了散射光程，降低了多次光散射效应，实现了高浓度测试样品的粒度测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 山东理工大学 |
| 发明人： | 刘伟;秦福元;王雅静;申晋;马立修;陈文钢 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811295091.0 |
| 公开号： | CN109030298A |
| 代理机构： | 淄博佳和专利代理事务所 37223 |
| 代理人： | 孙爱华 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02 |
| 申请人地址： | 255086 山东省淄博市高新技术产业开发区高创园A座313室 |
| 主权项： | 1.一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置，包括样品池（1），测试样品位于样品池（1）内，其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（5）、激光器（8）和GRIN透镜（9），激光器（8）射出的入射光经透镜（5）进入样品池（1），反射后自样品池（1）后端射出进入GRIN透镜（9），GRIN透镜（9）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节透镜（5）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述透镜（5）置于透镜调节装置内。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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