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原文传递 双波长光学检测装置
专利名称: 双波长光学检测装置
摘要: 本实用新型公开了一种双波长光学检测装置,包括光学组件、比色皿 组件以及光学检测组件,所述光学组件中设有灯源,该灯源可发出两种不 同波长的光,经过比色皿组件中比色透镜后平行穿过比色皿,并分别通过 光学检测组件的滤光镜选择吸收。与现有技术相比,本实用新型可测定浑 浊样品,也可测定吸收光谱相互重叠的混合物样品,而当杂质使主峰产生 肩峰时,本装置也具有良好的测定主峰物质效果。
专利类型: 实用新型专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 宇星科技发展(深圳)有限公司
发明人: 王富生;舒易强;马光明
专利状态: 有效
申请日期: 2009-01-05T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200920129049.1
公开号: CN201335808
代理机构: 深圳市精英专利事务所
代理人: 李新林
分类号: G01N21/31(2006.01)I
申请人地址: 518000广东省深圳市南山区高新技术产业园清华信息港研发楼B座301号
主权项: 1、一种双波长光学检测装置,包括光学组件、比色皿组件以及光学 检测组件,其特征在于:所述光学组件中设有灯源(120),该灯源(120) 可发出两种不同波长的光,经过比色皿组件中比色透镜(213)后平行穿 过比色皿(117),并分别通过光学检测组件的滤光镜(203)、(205)选 择吸收。
所属类别: 实用新型
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