专利名称: |
双波长光学检测装置 |
摘要: |
本实用新型公开了一种双波长光学检测装置,包括光学组件、比色皿
组件以及光学检测组件,所述光学组件中设有灯源,该灯源可发出两种不
同波长的光,经过比色皿组件中比色透镜后平行穿过比色皿,并分别通过
光学检测组件的滤光镜选择吸收。与现有技术相比,本实用新型可测定浑
浊样品,也可测定吸收光谱相互重叠的混合物样品,而当杂质使主峰产生
肩峰时,本装置也具有良好的测定主峰物质效果。 |
专利类型: |
实用新型专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
宇星科技发展(深圳)有限公司 |
发明人: |
王富生;舒易强;马光明 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2009-01-05T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN200920129049.1 |
公开号: |
CN201335808 |
代理机构: |
深圳市精英专利事务所 |
代理人: |
李新林 |
分类号: |
G01N21/31(2006.01)I |
申请人地址: |
518000广东省深圳市南山区高新技术产业园清华信息港研发楼B座301号 |
主权项: |
1、一种双波长光学检测装置,包括光学组件、比色皿组件以及光学
检测组件,其特征在于:所述光学组件中设有灯源(120),该灯源(120)
可发出两种不同波长的光,经过比色皿组件中比色透镜(213)后平行穿
过比色皿(117),并分别通过光学检测组件的滤光镜(203)、(205)选
择吸收。 |
所属类别: |
实用新型 |