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一种用于多波长荧光检测的光学检测机构
| 专利名称： | 一种用于多波长荧光检测的光学检测机构 |
| 摘要： | 一种用于多波长荧光检测的光学检测机构，包括第一光纤头、第二光纤头、接收滤光片、激发滤光片、检测器、光源组件，所述第一光纤头、接收滤光片、检测器同轴设置，所述第二光纤头、激发滤光片、光源组件同轴设置，所述第一光纤头和第二光纤头均与组合光纤头连接，多对对应设置用于检测不同波长试剂的所述接收滤光片和激发滤光片设置在一能旋转的滤光片轮上。本实用新型通过对多对对应设置的接收滤光片和激发滤光片的切换来实现不同波长试剂的检测，从而不需要设置多个光纤进行不同波长的试剂检测，降低成本，同时提高检测效率。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 杭州安誉科技有限公司 |
| 发明人： | 凌建鸿;章贤骏;吴保强;孙琦 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201721589134.7 |
| 公开号： | CN207557110U |
| 代理机构： | 杭州千克知识产权代理有限公司 33246 |
| 代理人： | 赵芳;张瑜 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64;G01N21/01 |
| 申请人地址： | 310021 浙江省杭州市江干区大农港路1216号2号楼6层607室 |
| 主权项： | 1.一种用于多波长荧光检测的光学检测机构，包括第一光纤头、第二光纤头、接收滤光片、激发滤光片、检测器、光源组件，所述第一光纤头、接收滤光片、检测器同轴设置，所述第二光纤头、激发滤光片、光源组件同轴设置，所述第一光纤头和第二光纤头均与组合光纤头连接，其特征在于：多对对应设置用于检测不同波长试剂的所述接收滤光片和激发滤光片设置在一能旋转的滤光片轮上。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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