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用于检测多个电子元件的外观的检测系统
| 专利名称： | 用于检测多个电子元件的外观的检测系统 |
| 摘要： | 一种用于检测多个电子元件的外观的检测系统，其包括：一转盘模块、一 进料模块及一检测模块。该转盘模块具有一底盘结构及一设置于该底盘结构上 端的中空透明转盘结构。该进料模块设置于该中空透明转盘结构的一侧，以将 所述多个电子元件依序导引至该中空透明转盘结构的上表面。该检测模块具有 多组依序环绕该中空透明转盘结构的检测单元，并且每一组检测单元由一用于 感测所述多个电子元件的图像感测元件、一用于提取所述多个电子元件的表面 图像的图像提取元件及一用于将所述多个电子元件进行分类的分料元件所组 成。本实用新型能通过该容置空间所形成的凹陷空间，而提取到电子元件的正 确图像。该中空透明转盘结构为中空结构，可大大节省材料成本。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 台湾;TW |
| 申请人： | 久元电子股份有限公司 |
| 发明人： | 汪秉龙;陈桂标;陈信呈;周明澔;倪仁君 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-03-06T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200920007464.X |
| 公开号： | CN201373853 |
| 代理机构： | 隆天国际知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 姜 燕;陈 晨 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I |
| 申请人地址： | 中国台湾新竹市 |
| 主权项： | 1、一种用于检测多个电子元件的外观的检测系统，其特征在于，包括： 一转盘模块，其具有一底盘结构及一设置于该底盘结构上端的中空透明 转盘结构，其中该中空透明转盘结构下表面的内圈区域被该底盘结构所遮 盖，而该中空透明转盘结构下表面的外圈区域裸露在外； 一进料模块，其设置于该中空透明转盘结构的一侧，以将所述多个电子 元件依序导引至该中空透明转盘结构的上表面；以及 一检测模块，其具有多组依序环绕该中空透明转盘结构的检测单元，并 且每一组检测单元由一用于感测所述多个电子元件的图像感测元件、一用于 提取所述多个电子元件的表面图像的图像提取元件及一用于将所述多个电 子元件进行分类的分料元件所组成。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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