专利名称: | 数据处理方法,数据处理设备,诊断方法和诊断设备 |
摘要: | 提供一种能够精确地诊断可以多个操作模式操作的、诸如设备的 对象的每个参数的数据处理方法,数据处理设备,诊断方法和诊断设 备。检测装置1a-1d针对操作模式检测多个正常状态数据集,所述正 常状态数据集包括n个参数值。此外,自组织映射创建装置(2)利用 正常数据集针对每个操作模式创建自组织映射。此外,异常状态数据 创建装置(7)通过偏差矢量增大/减小正常状态数据集中的每个参数 值,以创建虚拟异常状态数据集。针对一个正常状态数据集创建的虚 拟异常状态数据集的数目等于偏差矢量的数目。操作模式比例计算装 置(8)在所述自组织映射中获取与异常状态数据集中的每一个具有最 高相似度的映射,并计算针对每一个偏差矢量的异常状态操作模式比 例矢量。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 日本;JP |
申请人: | 新卡特彼勒三菱株式会社 |
发明人: | 甘特科·L·瓦特奇科夫;小松孝二;藤井敏;室田功 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2005-04-28T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200580025799.9 |
公开号: | CN101027617 |
代理机构: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人: | 杜 娟 |
分类号: | G05B23/02(2006.01)I |
申请人地址: | 日本东京都 |
主权项: | 1、一种用于数据处理的方法,所述方法包括以下步骤: 在能够以多个操作模式操作的对象执行正常状态的预备操作的 同时,针对所述多个操作模式中的每一个,检测多个(D个组合; [d1,d2,...dD])正常数据集(di=[P1,P2,...,Pn]),所述多个正常数据集 中的每一个包括根据所述对象的操作而变化的n个参数的值 (P1,P2,...,Pn); 利用在所述检测步骤中检测出的、表示所述对象的正常状态的所 述多个正常数据集,创建自组织映射,所述自组织映射用作与所述多 个操作模式一一对应的独立模型; 通过利用多(E)个不同偏差矢量对在所述检测步骤中检测出的 所述多个正常数据集中的每一个的所述n个参数的值进行修改,针对 所述多个正常数据集中的每一个创建多(E)个异常数据集,所述多 (E)个异常数据集表示其中对象具有异常的虚拟异常状态,所述多 (E)个不同偏差矢量中的每一个具有数量上与所述参数相同的偏差 分量,使得针对所述多个正常数据集中的每一个创建与所述多(E) 个偏差矢量一样多的异常数据集;以及 通过从在所述创建自组织映射的步骤中创建的自组织映射中,选 择与在所述创建异常数据集的步骤中创建的异常数据集中的每一个具 有最高相似度的自组织映射,针对所述偏差矢量中的每一个计算异常 操作模式比例矢量,所述异常操作模式比例矢量表示针对所述偏差矢 量中的每一个的、所述多个操作模式分别与所有所述多个操作模式的 比例。 |
学科领域: | CFCF04 |
所属类别: | 发明专利 |