专利名称: |
多视角成像数据处理方法和设备 |
摘要: |
公开了一种用于多视角成像数据处理的方法和设备。在一实施例中,通过X射线从两个或更多个视角对被检物体进行照射得到所述多视角成像数据。该方法包括:从多视角成像数据中提取代表被检物体中同一区域的数据;根据所提取的数据,对该区域进行截面重建;基于梯度下降,对重建的截面进行处理,得到处理后的重建截面;根据处理后的重建截面,确定该区域的等效原子序数和密度;以及基于所确定的等效原子序数和特征密度,确定该区域是否包含违禁品。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人: |
吴珊珊;王强;刘晶晶;廖育华;张金宇 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201611257546.0 |
公开号: |
CN108267465A |
代理机构: |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人: |
倪斌 |
分类号: |
G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
主权项: |
1.一种对多视角成像数据进行处理的方法,其中,通过X射线从两个或更多个视角对被检物体进行照射得到所述多视角成像数据,该方法包括:从多视角成像数据中提取代表被检物体中同一区域的数据;根据所提取的数据,对该区域进行截面重建;基于梯度下降,对重建的截面进行处理,得到处理后的重建截面;根据处理后的重建截面,确定该区域的等效原子序数和密度;以及基于所确定的等效原子序数和特征密度,确定该区域是否包含违禁品。 |
所属类别: |
发明专利 |