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原文传递检测至少间接表明材料幅面处理装置中表面特性的至少一个值的设备和方法和优化该装置运行状况的方法

专利名称：	检测至少间接表明材料幅面处理装置中表面特性的至少一个值的设备和方法和优化该装置运行状况的方法
摘要：	本发明涉及一种通过确定表面(2)的反射特性，尤其是反射比检测至少间接地表示材料幅面处理装置(5)中的表面(2)的特性的至少一个值的方法和设备。本发明的特征在于，借助至少一个发射源(7)在至少两个不同测量位置上(3，4，22)照射所述表面(2)，并且采用探测装置(12)同时在所述各测量位置处(3，4，22)检测至少间接地表示所述表面(2)的反射特性，尤其是反射比的至少一个值。本发明还涉及一种用于优化材料幅面处理装置的方法。
专利类型：	发明专利
申请人：	沃依特专利有限责任公司
发明人：	鲁道夫·芒奇
专利状态：	有效
申请日期：	2008-10-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200880126851.3
公开号：	CN101946170A
代理机构：	北京市柳沈律师事务所 11105
代理人：	侯宇
分类号：	G01N21/57(2006.01)I
申请人地址：	德国海登海姆
主权项：	一种通过确定表面(2)的反射特性，尤其是反射比来检测至少间接地表示材料幅面处理装置(5)中的所述表面(2)的特性的至少一个参数的方法，其特征在于，借助至少一个发射源(7)照射在至少两个不同测量位置上的所述表面(2)，并且采用探测装置(12)在所述各测量位置(3，4，22)处检测至少间接地表示所述表面(2)的反射特性，尤其是反射比的至少一个参数。
所属类别：	发明专利