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用于近临界反射光谱学的方法、装置和套件
| 专利名称： | 用于近临界反射光谱学的方法、装置和套件 |
| 摘要： | 本申请涉及用于近临界反射光谱学的方法、装置和套件。描述了面向样品的临界角的光谱设备，该设备检测样品的光谱特性，其中，设备包括：电磁辐射源，其适合于利用以处于或接近样品的临界角的入射角引入样品的电磁辐射来激发样品；适合于内反射电磁辐射的高折射率的传输晶体；反射器，其适合于将电磁辐射以处于或接近晶体与样品之间的临界角的入射角引入样品；以及检测器，其用于检测来自样品的电磁辐射。此外，这里也提供了结合近临界反射光谱设备的方法、系统和套件。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 莱尔照明公司 |
| 发明人： | 罗伯特·G·梅塞施米特 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-01-30T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980112418.9 |
| 公开号： | CN101990633A |
| 代理机构： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
| 代理人： | 李晓冬;南霆 |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I |
| 申请人地址： | 美国加利福尼亚州 |
| 主权项： | 一种用于检测样品的光谱特征的设备，包括：电磁辐射源，其适于利用电磁辐射来激发样品；与所述电磁辐射源和所述样品相通信的晶体，所述晶体具有适于反射所述电磁辐射的高折射率；反射器，其适合于将所述电磁辐射以处于或接近所述晶体与所述样品之间的临界角的入射角引入所述样品；以及检测器，其用于检测来自所述样品的电磁辐射。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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