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复合构造物的非破坏检查装置和非破坏检查方法
| 专利名称： | 复合构造物的非破坏检查装置和非破坏检查方法 |
| 摘要： | 提供利用宇宙射线μ介子，检查复合构造物的表层内部的非破坏检查装置和非破坏检查方法。一种非破坏检查装置，利用在行进方向只以给定量的自旋极化并大概在水平方向行进的宇宙射线μ介子(12)，检查复合构造物(11)的表层内部，该装置包括：检测伴随着在所述复合构造物(11)的内部静止的所述宇宙射线μ介子(12)的消减，在与所述宇宙射线μ介子(12)的照射方向相反方向以特性的时间常数反射放出的阳电子和电子量的阳电子和电子量检测部件(13)；从通过所述阳电子和电子量检测部件(13)检测的阳电子和电子量，把在所述复合构造物(11)的所述表层内部存在的与所述表层的第一物质(11-1)不同的第二物质(11-2)的状态以放射线照相进行数据处理并输出的放射线照相处理部件(14、15、16)。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 高能加速器研究所 |
| 发明人： | 永岭谦忠 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980106309.6 |
| 公开号： | CN101971010A |
| 代理机构： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 |
| 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 分类号： | G01N23/22(2006.01)I |
| 申请人地址： | 日本茨城县 |
| 主权项： | 一种复合构造物的非破坏检查装置，利用在行进方向只以给定量自旋极化并通常在水平方向行进的宇宙射线μ介子，检查复合构造物的表层内部，其特征在于，该装置包括阳电子和电子量检测部件以及放射线照相数据处理部件，其中：所述阳电子和电子量检测部件检测伴随着在所述复合构造物的内部静止的所述宇宙射线μ介子的消减，在与所述宇宙射线μ介子的照射方向相反方向以特性的时间常数反射放出的阳电子和电子量；所述放射线照相数据处理部件根据在所述阳电子和电子量检测部件中检测的阳电子和电子量，将在所述复合构造物的所述表层内部存在的与所述表层的第一物质不同的第二物质的状态通过放射线照相进行数据处理并输出。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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