专利名称: | 超痕量疾病标志物快速检测仪 |
摘要: | 本发明公开了一种超痕量疾病标志物快速检测仪,涉及检测技术,包括37℃恒温加热系统、流动注射系统和检测控制系统。37℃恒温加热系统中,温度传感器实时检测半导体制热片所紧贴的加热杯,通过不断调节半导体制热片达到37℃恒温加热,为生物反应提供37℃的孵育环境。通过蠕动泵实现流动注射,完成自动进样,以减小人为误差,缩短检测时间。检测控制系统包括光电转换单元、光子计数单元、中央处理与控制单元。采用高灵敏度的光电倍增管实现微弱光检测,并对检测腔做良好的屏蔽处理。采用高速的可编程逻辑器件FPGA实现光子脉冲的计数,计数时间和计数位数可自由设定,计数灵敏,误差较小,从而达到检测超痕量物质的目的。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 北京;11 |
申请人: | 中国科学院电子学研究所 |
发明人: | 王蜜霞;蔡新霞;刘军涛;刘儒平 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-08-26T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910091635.6 |
公开号: | CN101995481A |
代理机构: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人: | 周国城 |
分类号: | G01N35/08(2006.01)I |
申请人地址: | 100080 北京市海淀区北四环西路19号 |
主权项: | 一种超痕量疾病标志物快速检测仪,包括37℃恒温加热系统、流动注射系统和检测控制系统,其特征在于,37℃恒温加热系统包括:样品加热杯、半导体制热片、温度传感器、温度反馈电路和制热控制电路;其中,半导体制热片紧贴加热杯底部,并顺序同制热控制电路、检测控制系统电气连接;温度传感器紧贴加热杯侧面,并顺序同温度反馈电路、检测控制系统电气连接;流动注射系统包括:试剂瓶、两可调速蠕动泵,两注射软管和蠕动泵控制电路;其中,两可调速蠕动泵分别与蠕动泵控制电路电气连接,第一可调速蠕动泵两端经一注射软管分别与检测控制系统、加热杯容腔相连通;第二可调速蠕动泵两端经另一注射软管分别与检测控制系统、试剂瓶容腔相连通;检测控制系统包括:光电转换单元、光子计数单元、中央处理与控制单元。 |
所属类别: | 发明专利 |