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原文传递 AOI缺陷检测系统

专利名称：	AOI缺陷检测系统
摘要：	本实用新型公开了一种AOI缺陷检测系统，包括一AOI检测器，所述AOI检测器上设有一打点笔，所述打点笔的一侧设有一感应器，所述AOI检测器上还设置有一计数器，所述感应器与所述计数器控制连接。本实用新型AOI缺陷检测系统通过在打点笔一侧设置感应器以及与感应器控制连接的一计数器，当每检测有一处缺陷时打点笔就下压打点标识，感应器就会感因到并控制计数器加1记录缺陷数目，并显示出来，这样工作人员可以根据计数器记录的缺陷数目寻找PCB上的标识的缺陷位置，从而不会出现漏数缺陷数目位置而造成对缺陷位置漏处理让其流入下一工序造成不合格电路板的产生。
专利类型：	实用新型专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深南电路有限公司
发明人：	苏太华;杨德红
专利状态：	有效
申请日期：	2010-04-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201020160319.8
公开号：	CN201707302U
代理机构：	深圳市博锐专利事务所 44275
代理人：	张明
分类号：	G01N21/88(2006.01)I
申请人地址：	518053 广东省深圳市南山区侨城东路99号
主权项：	一种AOI缺陷检测系统，包括一AOI检测器，其特征在于，所述AOI检测器上设有一打点笔，所述打点笔的一侧设有一感应器，所述AOI检测器上还设置有一计数器，所述感应器与所述计数器控制连接。
所属类别：	实用新型