详情

原文传递缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法

专利名称：	缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法
摘要：	一种缺陷检测装置，用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷，所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台，所述固定装置具有一空腔，所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内，所述放置台置于所述空腔内，所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩，所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处，所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。本发明还提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统及缺陷检测方法。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	清华大学深圳研究生院
发明人：	梅红伟;涂彦昕;胡伟;刘健犇;刘立帅;王黎明
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-19T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-19T00:00:00+0800
申请号：	CN201910317402.7
公开号：	CN110031511A
代理机构：	深圳市鼎言知识产权代理有限公司
代理人：	曾昭毅;郑海威
分类号：	G01N25/72(2006.01);G;G01;G01N;G01N25
申请人地址：	518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
主权项：	1.一种缺陷检测装置，用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷，其特征在于，所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台，所述固定装置具有一空腔，所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内，所述放置台置于所述空腔内，所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩，所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处，所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。 2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述红外热像采集仪与放置台的距离可调节。 3.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述固定装置采用非金属材料制成。 4.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括一支架，所述支架设置于所述放置台的两端，所述支架呈“V”形、“Y”形或“U”形，所述支架用于支撑复合绝缘子。 5.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷装置还包括一遮盖物，所述遮盖物设置于所述固定装置的两端，所述遮盖物为不透明的材质组成，所述遮盖物用于将将固定装置的空腔遮挡起来，使所述空腔与外界隔离。 6.一种缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统包括权利要求1-5任意一项所述的缺陷检测装置及一计算机系统，所述计算机系统用于对所述缺陷检测装置中的所述红外热像采集仪所生成的热图序列进行处理，并以数据和/或图片的形式显示出来。 7.根据权利要求6所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统在检测复合绝缘子金具压接处的缺陷信息后，若复合绝缘子的缺陷信息不完整，所述计算机系统则自动发出重新检测指示，重复检测步骤以确保检测缺陷的完整信息。 8.根据权利要求6所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述红外热像采集仪将采集的热图序列传送至所述计算机系统进行处理，所述计算机系统利用傅立叶变换和神经卷积网络分析得到热图振幅序列图和相位序列图。 9.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：收容一复合绝缘子于权利要求1所述的缺陷检测装置中；所述电磁激励源发射一电磁激励信号；所述红外热像采集仪采集红外热图信息并转换成热图序列并传送给一计算机系统，以便所述计算机系统将所述热图序列转换成热图振幅序列图与相位序列图，并将结果呈现出来。 10.根据权利要求9所述的缺陷检测方法，其特征在于，在开始检测前，还包括对所述缺陷检测装置进行预热以及对所述红外热像采集仪进行调焦的步骤。
所属类别：	发明专利