详情

原文传递缺陷检测装置及缺陷检测方法

专利名称：	缺陷检测装置及缺陷检测方法
摘要：	本发明提供一种缺陷检测装置，该缺陷检测装置具有：加法运算值计算单元，其对在拍摄检查对象物而得到的图像的预定方向上排列的各像素的像素值的加法运算值进行计算；指标值计算单元，其对表示在所述图像的所述预定方向上排列的各像素的像素值的一致性的指标值进行计算；加法运算值校正单元，其根据所述指标值校正所述加法运算值；以及判定单元，其根据校正后的所述加法运算值和阈值的比较结果，判定所述检查对象物上是否有线状缺陷。
专利类型：	发明专利
申请人：	奥林巴斯株式会社
发明人：	山崎隆一
专利状态：	有效
申请日期：	2008-01-16T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200880002158.5
公开号：	CN101600957
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司
代理人：	黄纶伟
分类号：	G01N21/88(2006.01)I
申请人地址：	日本东京
主权项：	1.一种缺陷检测装置，其特征在于，该缺陷检测装置具有：加法运算值计算单元，其对在拍摄检查对象物而得到的图像的预定方向上排列的各像素的像素值的加法运算值进行计算；指标值计算单元，其对表示在所述图像的所述预定方向上排列的各像素的像素值的一致性的指标值进行计算；加法运算值校正单元，其根据所述指标值校正所述加法运算值；以及判定单元，其根据校正后的所述加法运算值和阈值的比较结果，判定所述检查对象物上是否有线状缺陷。
所属类别：	发明专利