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原文传递缺陷检查方法及缺陷检测系统

专利名称：	缺陷检查方法及缺陷检测系统
摘要：	缺陷检查方法及缺陷检测系统。缺陷检查方法包括一影像撷取步骤与一转换步骤。影像撷取步骤包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像。转换步骤包括将二维影像转换成一灰阶值曲线。灰阶值曲线包括对应光学薄膜的一凹凸缺陷部分的缺陷灰阶值曲线。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	中国台湾;71
申请人：	住华科技股份有限公司
发明人：	林宽宏;吴柏徵;洪嘉嬬
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810044244.8
公开号：	CN108287165A
代理机构：	北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人：	梁挥;鲍俊萍
分类号：	G01N21/88(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/95
申请人地址：	中国台湾台南市善化区环东路2段32号
主权项：	1.一种缺陷检查方法，其特征在于，包括：一影像撷取步骤，包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像；及一转换步骤，包括将该二维影像转换成一灰阶值曲线，该灰阶值曲线包括对应该光学薄膜的一凹凸缺陷部分的缺陷灰阶值曲线。
所属类别：	发明专利