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原文传递缺陷检查系统及缺陷检查方法

专利名称：	缺陷检查系统及缺陷检查方法
摘要：	本发明提供缺陷检查系统及缺陷检查方法。缺陷检查系统(1)具备光源(2)、摄像部(3)、输送部(4)及图像处理部(5)，由图像处理部(5)基于对与二维图像(F)所包含的缺陷的类别的识别相关的机械学习的结果进行积累得到的数据，来识别由摄像部(3)按离散时间拍摄出的一系列的二维图像所包含的缺陷的类别，因此通过将机械学习适用于按离散时间拍摄出的二维图像而使识别精度提高，除此以外，由摄像部(3)拍摄出在二维图像的与输送方向(X)一致的方向上亮度发生变化的二维图像，因此机械学习被适用于在按离散时间拍摄出的二维图像中的沿着输送方向的各部位处亮度发生变化的二维图像，能够提高缺陷(D)的识别精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	住友化学株式会社
发明人：	尾崎麻耶;广濑修
专利状态：	有效
申请号：	CN201810800030.9
公开号：	CN109297972A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：	刘文海
分类号：	G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本国东京都
主权项：	1.一种缺陷检查系统，其特征在于，具备：光源，其向检查对象照射光；摄像部，其按离散时间拍摄二维图像，该二维图像基于从所述光源向所述检查对象照射并透过所述检查对象或在所述检查对象上反射后的所述光而形成；输送部，其将所述检查对象相对于所述光源及所述摄像部沿着输送方向相对地输送；以及图像处理部，其对由所述摄像部拍摄出的所述二维图像的图像数据进行处理，所述摄像部拍摄出在所述二维图像的与所述输送方向一致的方向上亮度发生变化的所述二维图像，所述图像处理部基于对与所述二维图像所包含的缺陷的类别的识别相关的机械学习的结果进行积累得到的数据，来识别由所述摄像部按离散时间拍摄出的一系列的所述二维图像所包含的缺陷的类别。
所属类别：	发明专利