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原文传递特征物质的检测系统及方法

专利名称：	特征物质的检测系统及方法
摘要：	本发明涉及特征物质的检测系统及方法。该方法包括：步骤1，对被测样品进行质谱分析得到每个样品点的质谱数据，并确定被测样品的感兴趣区域；步骤2，对于同一个m/z所表征的物质，分别计算感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的总离子强度、感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的平均强度和/或感兴趣区域内该m/z所表征的物质的空间聚集度，依据预置的规则判定该m/z所表征的物质是否为特征物质。本发明使研究人员准确、精确分析检测出样品中感兴趣区域内能够检测到哪些是样品的特有物质、哪些是背景噪声，所有特征物质离子的相对含量以及其在样品内的空间分布情况。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国计量科学研究院
发明人：	熊行创;方向;张新荣;江游;黄泽健;何明佳;张玉奎
专利状态：	有效
申请日期：	2010-04-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201010164194.0
公开号：	CN101975818A
代理机构：	北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人：	梁挥;谢鑫
分类号：	G01N27/62(2006.01)I
申请人地址：	100013 北京市朝阳区北三环东路18号
主权项：	特征物质的检测方法，其特征在于，包括：步骤1，对被测样品进行质谱分析得到每个样品点的质谱数据，并确定被测样品的感兴趣区域；步骤2，对于同一个m/z所表征的物质，分别计算感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的总离子强度、感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的平均强度和/或感兴趣区域内该m/z所表征的物质的空间聚集度，依据预置的规则判定该m/z所表征的物质是否为特征物质；感兴趣区域内总离子强度为感兴趣区域内所有存在该m/z所表征的物质的样品点对应的质谱峰信号强度之和；感兴趣区域外总离子强度为感兴趣区域外所有存在该m/z所表征的物质的样品点对应的质谱峰信号强度之和；感兴趣区域内平均强度表示感兴趣区域内总离子强度除以感兴趣区域内所有存在该m/z所表征的物质的样品点的个数；感兴趣区域外平均强度表示感兴趣区域外总离子强度除以感兴趣区域外所有存在该m/z所表征的物质的样品点的个数。
所属类别：	发明专利