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一种测定不良导热材料热导率的装置
| 专利名称： | 一种测定不良导热材料热导率的装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种测定不良导热材料热导率的装置，包括样品柱、热电堆、恒温金属块，样品柱周围有紧密均匀排列的热电堆，样品柱置于恒温金属块内，样品柱结构包括电源、毛细不锈钢管、绝热盖、加热电阻、温度传感器、绝热片，样品柱中心置一微细毛细不锈钢管，管内均匀缠绕微细加热电阻，加热电阻接电源，紧贴毛细钢管外壁沿轴向均匀布置至少一个电阻温度传感器，带测样品充满毛细不锈钢管与样品柱外壁之间，样品柱上下分别有绝热盖和绝热片密封。可高精度测量不良导热材料热导率，装置结构简单，操作简便。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海理工大学 |
| 发明人： | 胥义;钟彦骞;王丽萍;吕娅 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-06-10T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201020221615.4 |
| 公开号： | CN201732071U |
| 代理机构： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 |
| 代理人： | 吴宝根 |
| 分类号： | G01N25/20(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200093 上海市杨浦区军工路516号 |
| 主权项： | 一种测定不良导热材料热导率的装置，其特征在于，包括样品柱(1)、热电堆(2)、恒温金属块(3)，样品柱(1)周围有紧密均匀排列的热电堆(2)，样品柱(1)置于恒温金属块(3)内，样品柱(1)包括电源(4)、毛细不锈钢管(5)、绝热盖(6)、加热电阻(7)、温度传感器(8)、绝热片(10)，样品柱(1)中心置一微细毛细不锈钢管(5)，管内均匀缠绕微细加热电阻(7)，加热电阻(7)接电源(4)，紧贴毛细钢管(5)外壁沿轴向均匀布置至少一个电阻温度传感器(8)，待测样品充满毛细不锈钢管(5)与样品柱(1)外壁之间，样品柱(1)上下分别有绝热盖(6)和绝热片(10)密封。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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