专利名称: |
双通道式灰度测量池 |
摘要: |
本实用新型公开了一种双通道灰度测量池,其特征在于:所述双通道灰度测量池包括外壳、测量光通道、参比光通道、温度传感器和电加热板;所述测量光通道和参比光通道平行设在外壳中,所述温度传感器内嵌在外壳内,所述电加热板紧贴外壳设置。所述测量光通道和参比光通道的内壁均设有一层朗伯涂层。所述外壳上方设有端盖。所述测量光通道内安装测量池,测量池上方连接样气进气接管。所述参比光通道内设有内封装参比样品的玻璃管。所述双通道灰度测量池还包括接受温度传感器信号和控制电加热板温度的温度控制器。本实用新型消除了灰度测量中的许多影响因素,简化了数据处理,提高了测量精度。 |
专利类型: |
实用新型专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京凯隆分析仪器有限公司 |
发明人: |
邢德立 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2010-06-18T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201020228940.3 |
公开号: |
CN201697866U |
分类号: |
G01N21/01(2006.01)I |
申请人地址: |
100004 北京市朝阳区东三环北路8号亮马河大厦1座1203室 |
主权项: |
一种双通道灰度测量池,其特征在于:所述双通道灰度测量池包括外壳、测量光通道、参比光通道、温度传感器和电加热板;所述测量光通道和参比光通道平行设在外壳中,所述温度传感器内嵌在外壳内,所述电加热板紧贴外壳设置。 |
所属类别: |
实用新型 |