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根据物质的光谱信息对商品进行检测的方法和系统装置
| 专利名称： | 根据物质的光谱信息对商品进行检测的方法和系统装置 |
| 摘要： | 本发明提供一种根据物质的光谱信息对商品进行检测的方法和系统装置。该方法包括以下步骤：采用光谱手段对商品的样品进行光谱测量，建立光谱数据库并对商品样品进行标识注册。对已注册的商品发放身份识别标识，如一维条码、二维条码、射频识别标签(RFID)。利用商品身份识别标识存储样品光谱信息、测量条件信息以及样品自身的商品信息；通过对目标商品的身份识别标识进行识读，利用所读出的测量条件等数据来设定测试系统，以期在同一测试手段下对目标商品进行光谱测量，将获取的目标商品的光谱信息与该商品所对应样品光谱信息进行比较分析。这样能够有效地知道上市的商品是否与注册样品的质量相符，同时还可以对某些违禁物质进行检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉矽感科技有限公司 |
| 发明人： | 张伟;侯兰忠;席再军 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-06-30T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201010222128.4 |
| 公开号： | CN101949824A |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I |
| 申请人地址： | 430023 湖北省武汉市常青花园外环路240号楼B座7层 |
| 主权项： | 一种根据物质的光谱信息对商品进行检测的方法，包括以下步骤：(1)采用光谱手段对商品的样品进行光谱测量，获取在所述光谱手段下测量的样品光谱；(2)建立光谱数据库，用于储存所述样品信息和所述样品光谱信息；；(3)对所述经取样检测的商品发放经注册的身份识别标识，所述身份识别标识储存所述样品信息；(4)对所述目标商品的身份识别标识进行识读，根据所述样品信息从所述光谱数据库中提取所述样品光谱信息；(5)根据提取的所述样品的信息来设定测试系统，对所述目标商品进行在所述光谱手段下的光谱测量，以获取所述目标商品的光谱；(6)将获取的所述目标商品的光谱与所述样品光谱进行比较分析，分析所述目标商品是否与所述样品基本一致。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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