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自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统及方法
| 专利名称： | 自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统及方法 |
| 摘要： | 一种自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统及方法，系统有由流动微粒组成的样品流，与样品流相交的相干激发光束，具有第一中心散射角度的相干散射光束的第一散射光接受物镜部分、第一分光及滤波部分、第一成像测量及数据输出部分、图像处理电路及计算机部分以及与图像处理电路及计算机部分相连的显示部分；方法是获得相应的可调波长及偏振衍射图像数据；存储数据；进行图像空间坐标变换；进行特征甄别并选取特征区域；选取衍射图像模式特征；确定所测量微粒在衍射图像特征参数矢量样本空间的位置；确定所测量微粒在衍射图像特征参数矢量样本空间的位置。本发明具有可根据微粒内部三维结构特征快速分析辨别大量微粒以及无需对微粒染色的优点。? |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 董珂;胡新华 |
| 发明人： | 董珂;胡新华 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-07-09T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201010221714.7 |
| 公开号： | CN101943663A |
| 分类号： | G01N21/63(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200072 上海市闸北区平型关路1083弄32号2005室 |
| 主权项： | 一种自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统，包括有由流动微粒(1)组成的样品流(2)，其特征在于，还设置有与样品流(2)相交的相干激发光束(3)，测量被相干激发光束(3)所激发的微粒射出的具有第一中心散射角度(23)的相干散射光束(4)的第一散射光接受物镜部分(A)，第一分光及滤波部分(B)，第一成像测量及数据输出部分(C)，图像处理电路及计算机部分(D)以及与图像处理电路及计算机部分(D)相连的显示部分；其中，所述的第一分光及滤波部分(B)用于对所接收的微粒发射的散射光进行分光和滤波；所述的第一成像测量及数据输出部分(C)用于对分光和滤波后的散射光进行成像测量及数据输出，从而获得由相干散射光束(4)形成的衍射图像；所述的图像处理电路及计算机部分(D)用于接收数据输出部分(C)的输出信息，提取不同波长及偏振衍射图像数据特征并计算、分析和辨别。所述的显示部分是将计算、分析和辨别结果的统计数据进行显示。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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