原文传递
微粒测量光谱仪、使用微粒测量光谱仪的微粒测量装置以及用于校正微粒测量光电转换系统的方法
| 专利名称： | 微粒测量光谱仪、使用微粒测量光谱仪的微粒测量装置以及用于校正微粒测量光电转换系统的方法 |
| 摘要： | 提供一种能够在光谱型微粒测量装置中处理定量数据而不会使SNR劣化的技术。本技术提供了微粒测量光谱仪，包括：分光元件，对从流经流路的微粒发出的光进行分光；以及光电转换阵列，包括多个具有不同检测波长范围的光接收元件，并将从光接收元件获得的光信息转换成电信息，其中，当每单位波长的光量相同的光入射时，光电转换阵列的所有通道的输出是均匀的。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 索尼公司 |
| 发明人： | 原雅明;梅津友行;冈本好喜 |
| 专利状态： | 在审 |
| 申请日期： | 2019-06-07T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2021-02-12T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201980044871.4 |
| 公开号： | CN112368565A |
| 代理机构： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 |
| 代理人： | 吴孟秋 |
| 分类号： | G01N15/14;G01J3/02;G01N21/64;G;G01;G01N;G01J;G01N15;G01J3;G01N21;G01N15/14;G01J3/02;G01N21/64 |
| 申请人地址： | 日本东京 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
