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原文传递分辨含铀微粒、含钚微粒的方法

专利名称：	分辨含铀微粒、含钚微粒的方法
摘要：	本发明提供了一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法。该方法包括以下步骤：步骤一：制备含微粒薄膜；步骤二：使α粒子固体径迹探测器受到α粒子的辐照；步骤三：对α粒子固体径迹探测器进行蚀刻，采集径迹星图像；步骤四：测量各迹轮廓远离径迹星中心一端的曲率半径；步骤五：根据曲率半径的平均值大小将各径迹星分为两组，分辨各径迹星所属微粒类型；步骤六：根据相对位置分辨出含微粒薄膜上的含铀微粒和含钚微粒。本发明的方法能够有效分辨样品中含铀微粒和含钚微粒，摆脱了以往对昂贵固定分析设备的依赖，其应用方便灵活，便于微粒的现场分辨，操作较为简单，成本低廉。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国原子能科学研究院
发明人：	王琛;常志远;郭士伦;刘国荣;李力力;赵永刚
专利状态：	有效
申请号：	CN201811294071.1
公开号：	CN109459351A
分类号：	G01N15/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	102413 北京市房山区新镇三强路1号院
主权项：	1.一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法，其特征在于该方法包括以下步骤：步骤一：制备含微粒薄膜，所述含微粒薄膜含有含铀微粒和含钚微粒；步骤二：将α粒子固体径迹探测器覆盖在所述含微粒薄膜表面，使所述α粒子固体径迹探测器受到所述含铀微粒和所述含钚微粒发射的α粒子的辐照，同时标记所述α粒子固体径迹探测器与所述含微粒有机薄膜的相对位置；步骤三：对所述α粒子固体径迹探测器进行蚀刻，使所述α粒子固体径迹探测器表面形成若干径迹星，采集各径迹星的图像；步骤四：从所述图像上测量每个径迹星的各径迹轮廓远离径迹星中心一端的曲率半径，获得每个径迹星的所述曲率半径的平均值；步骤五：根据各径迹星的所述曲率半径的平均值大小将各径迹星分为两组，所述曲率半径的平均值大的一组径迹星为含铀微粒产生的径迹星，所述曲率半径的平均值小的一组径迹星为含钚微粒产生的径迹星；步骤六：根据所述α粒子固体径迹探测器与所述含微粒有机薄膜的相对位置分辨出所述含微粒薄膜上的含铀微粒和含钚微粒。
所属类别：	发明专利