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一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统
| 专利名称： | 一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统 |
| 摘要： | 本发明涉及一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统，引入了第二重调制，包括激光器、光路部件、傅立叶变换光谱仪、锁相放大器。光路部件包括反射镜、透镜和抛物面镜，构成测试光路；激光器具有内部调制功能，其激发的调制激光经过反射镜转换方向后由透镜聚焦照射在被测样品上，被测样品产生的光荧光通过抛物面镜收集转向准直后以宽光束形式送至傅立叶变换光谱仪。锁相放大器的信号输入端与傅立叶变换仪中的前置放大器相连，信号参考输入端与激光器的脉冲发生器相连，输出端与傅立叶变换光谱仪中的电子学系统相连。本发明选择合适的光激发激光器并对其进行调制，同时在信号检测中增加锁相放大和解调，以此提高光荧光测试的灵敏度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 发明人： | 张永刚;顾溢 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-08-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201010262884.X |
| 公开号： | CN101936903A |
| 代理机构： | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 |
| 代理人： | 宋缨;孙健 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200050 上海市长宁区长宁路865号 |
| 主权项： | 一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统，包括激光器(1)、光路部件(3)、傅立叶变换光谱仪(2)、锁相放大器(5)，其特征在于，所述的光路部件(3)包括反射镜(31)、透镜(32)和抛物面镜(33)，并构成测试光路；所述的激光器(1)配有具有调制功能的激光器电源(10)，并通过脉冲发生器(11)进行强度调制；所述的激光器(1)发射出的调制激光经过所述的反射镜(31)转换方向后由所述的透镜(32)聚焦直接照射在被测样品(4)上，所述的被测样品(4)产生的光荧光通过抛物面镜(33)收集转向准直后以宽光束形式送达至所述的傅立叶变换光谱仪(2)中的麦克尔逊干涉仪(21)，由所述的傅立叶变换光谱仪(2)中的探测器(23)接收所述的麦克尔逊干涉仪(21)发出的信号，再由所述的傅立叶变换光谱仪(2)中的前置放大器(24)放大后送入所述的锁相放大器(5)的信号输入端；所述的锁相放大器(5)的信号参考输入端与所述的脉冲发生器(11)相连，输出端与所述的傅立叶变换光谱仪(2)中的电子学系统(25)相连。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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