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消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法
| 专利名称： | 消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法 |
| 摘要： | 一种消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，包括如下步骤：(1)测量没有放置样品时的参考信号太赫兹时域波形；(2)测量载有待测样品信息的太赫兹时域波形；(3)由太赫兹时域波形分别得到参考信号以及待测样品在有效频率范围内的振幅谱rr(ω)、rs(ω)，ω为相应的角频率；(4)将待测样品的振幅谱除以参考信号的振幅谱得到相对反射率谱(5)由得到的相对反射率谱r(ω)，通过计算提取待测样品在太赫兹波段的特征吸收谱。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 首都师范大学 |
| 发明人： | 张存林;张亮亮;钟华;邓朝 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-09-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201010291937.0 |
| 公开号： | CN101975754A |
| 代理机构： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 |
| 代理人： | 孙皓晨 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100037 北京市西三环北路105号 |
| 主权项： | 一种消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)测量没有放置样品时参考信号的太赫兹时域波形；(2)测量载有待测样品信息的太赫兹时域波形；(3)由太赫兹时域波形分别得到参考信号以及待测样品在系统有效频率范围内的振幅谱rr(ω)、rs(ω)，ω为相应的角频率；(4)将待测样品的振幅谱除以参考信号的振幅谱得到相对反射率谱(5)由得到的相对反射率谱r(ω)，通过计算提取出待测样品在系统有效频率范围内的特征吸收谱。FSA00000283370600011.tif,FSA00000283370600012.tif |
| 所属类别： | 发明专利 |
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