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原文传递 一种太赫兹叠层成像探针位置误差校正方法
专利名称: 一种太赫兹叠层成像探针位置误差校正方法
摘要: 本发明公开了一种太赫兹叠层成像探针位置误差校正方法,该方法包括将探测器采集到的衍射图样进行角谱回传到物平面,由于物平面的衍射图包含着物函数的信息,通过对相邻两幅衍射图回传的物面幅值做互相关运算,由于物面幅值交叠处存在着重复的部分,所以可以通过寻找相关峰得出相邻两幅探针位置的偏移量,定义初始点位置后便可得到全部探针的位置信息,将求得的位置作为输入,用来作为叠层迭代算法探针的位置坐标。通过相邻携带样品信息的小孔衍射图,用亚像素匹配的方法计算得出探针在物平面位置信息。以亚像素精度获取探针与样品的相对位置变化量,提高迭代算法的运算效率以及收敛速度,并提高成像保真度。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 北京工业大学
发明人: 王大勇;戎路;唐超;王云新;赵洁
专利状态: 有效
申请号: CN201811156782.2
公开号: CN109374580A
代理机构: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203
代理人: 沈波
分类号: G01N21/47(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 100124 北京市朝阳区平乐园100号
主权项: 1.一种太赫兹叠层成像探针位置误差校正方法,实现该方法的成像系统光路包括二氧化碳泵浦连续太赫兹激光器,两个镀金离轴抛物面镜,带圆孔掩膜板,被测样品,三维电动平移台,面阵式热释电探测器;二氧化碳泵浦连续太赫兹激光器作为辐射源;离轴抛物面镜将激光器辐射出的连续太赫兹波扩束准直成平行光;掩膜板中心为一个直径为3.3mm的小孔;被测样品置于掩膜板与面阵式热释电探测器之间,被测样品贴近掩膜板,同时尽量靠近探测器,样品固定在三维电动平移台上,三维电动平移台x轴、y轴用以水平、垂直移动待测样品,z轴调节样品沿光轴方向的位置;太赫兹波由激光器生成后,通过两个离轴抛物面镜进行扩束准直,经过掩膜板照射在样品上,透过样品后由热释电探测器记录;通过移动三维平移台,热释电探测器采集到样品交叠的小孔衍射图Ij(u),其中j=1,2,3…J,J是衍射图样的总数;其特征在于:该方法将探测器采集到的衍射图样进行角谱回传到物平面,由于物平面的衍射图包含着物函数的信息,通过对相邻两幅衍射图回传的物面幅值做互相关运算,由于物面幅值交叠处存在着重复的部分,所以可以通过寻找相关峰得出相邻两幅探针位置的偏移量,定义初始点位置后便可得到全部探针的位置信息,将求得的位置作为输入,用来作为叠层迭代算法探针的位置坐标。
所属类别: 发明专利
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