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原文传递 具有用于测量层厚度的测量单元的涂覆设备
专利名称: 具有用于测量层厚度的测量单元的涂覆设备
摘要: 本发明涉及用于涂覆元件(7)尤其是机动车车身的连续的涂覆站,包括至少一个涂覆单元,至少一个测量单元以及运送路径(3),其中,所述元件(7)在所述至少一个涂覆单元中涂敷一定层厚的涂料,所述至少一个测量单元通过用于辐射涂敷的元件(7)的至少一个辐射源(22-24)和用于探测由辐射的元件反射的辐射从而确定其层厚的至少一个辐射探测器(22-24),测量元件(7)上的涂料的层厚,沿着该运送路径(3),运送待涂覆的元件(7)通过所述涂覆单元,并且随后通过所述测量单元。根据本发明,所述测量单元的辐射源(22-24)发射可见波长范围内的光。
专利类型: 发明专利
申请人: 杜尔系统有限责任公司
发明人: J·哈斯;F·赫里;H-G·弗里茨;S·维塞尔基
专利状态: 有效
申请日期: 2009-03-11T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200980117059.6
公开号: CN102026737A
代理机构: 永新专利商标代理有限公司 72002
代理人: 王琼
分类号: B05B12/08(2006.01)I
申请人地址: 德国比梯海姆-比斯英恩
主权项: 一种用于元件(6,7)尤其是机动车车身的连续涂覆的涂覆设备,具有a)至少一个涂覆单元(1,2),所述元件(6,7)在所述涂覆单元(1,2)中被涂敷一定层厚(dACT)的涂料,b)至少一个测量单元(4,5),其通过至少一个辐射源(22?24;35)和至少一个辐射探测器(22?24)测量所述元件(6,7)上涂料的层厚(dACT),其中,所述至少一个辐射源(22?24;35)用于辐射所述已涂覆元件(6,7),所述至少一个辐射探测器(22?24)用于探测由所述辐射的元件(6,7)反射的辐射,从而确定其层厚(dACT),并且还具有c)运送路径(3),沿着所述运送路径(3),运送所述待涂覆的元件(6,7)通过所述涂覆单元(1,2),并且随后通过所述测量单元(4,5),其特征在于,d)所述辐射源(22?24;35)以二维方式辐射待测的所述已涂覆元件(6,7)的表面,以及e)所述辐射探测器(22?24)以二维方式测量待测的所述已涂覆元件(6,7)的表面。
所属类别: 发明专利
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