专利名称: | 绝缘劣化检测装置 |
摘要: | 本发明的目的在于提供一种绝缘劣化检测装置,其中,不产生电压漂移的问题,且即使在施加干扰电压时仍能够快速地恢复到能够测定的状态。即使注入与抽出的电流存在不平衡的情况下,仍进行到一定电压的电流注入、电流抽出,故不产生电压漂移的问题,另外,即使从绝缘电容器的直流电源侧施加较大的干扰电压时,向一定电压的电流抽出(或电流注入)在其之后的周期进行,能够快速地恢复到原始的能够测定的状态。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 株式会社PUES |
发明人: | 德田博厚;深泽保;福田哲夫 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2010-12-13T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201080010228.9 |
公开号: | CN102341714A |
分类号: | G01R31/02(2006.01)I |
申请人地址: | 日本国东京都 |
所属类别: | 发明专利 |