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二次电池的劣化诊断方法及劣化诊断装置
| 专利名称： | 二次电池的劣化诊断方法及劣化诊断装置 |
| 摘要： | 在二次电池的充电过程中，求出二次电池的电压V成为规定电压Vpre时的电压变化率dV/dt，检测对二次电池进行充电的充电电流I，基于该检测结果，计算二次电池的充电电量Q的变化率dQ/dt。其中，电压Vpre是大于等于放电终止电压且小于充电终止电压的电压。并且，计算充电电量变化率dQ/dt与上述电压变化率dV/dt的比值X即dQ/dV。将计算出的比值X与基准值Xref进行比较，基于其比较结果判断二次电池的劣化。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 松下电器产业株式会社 |
| 发明人： | 汤浅真一 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-12-10T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201080029450.3 |
| 公开号： | CN102472794A |
| 代理机构： | 永新专利商标代理有限公司 72002 |
| 代理人： | 戚宏梅;杨谦 |
| 分类号： | G01R31/36(2006.01)I |
| 申请人地址： | 日本大阪府 |
| 主权项： | 一种二次电池的寿命诊断方法，其中，包括：在二次电池的伴随电压变化的充电过程中，得到上述二次电池的电压变化率的步骤；得到上述二次电池的充电电量变化率的步骤；以及基于上述充电电量变化率及上述电压变化率，判断上述二次电池的劣化的步骤。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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