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一种材料氢脆的显微硬度表征方法
| 专利名称： | 一种材料氢脆的显微硬度表征方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种材料氢脆的显微硬度表征方法，该方法包括材料预处理和显微硬度法，采用显微硬度法分别测量未进行阴极保护的试样和在不同阴极保护电位下持续保护24小时后的试样的显微硬度，然后经过对比发现，试样在过保护条件下发生氢脆后表面显微硬度有明显变化。本发明的技术方案克服现有技术的不足，提供一种材料氢脆的显微硬度表征方法，该方法实验过程简单，实验操作安全，实验成本低，所得结果能较好地表征材料硬度的变化。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 高志明;林峰;刘永长;修妍;韩夏冰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-10-21T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110323701.5 |
| 公开号： | CN102507353A |
| 代理机构： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
| 代理人： | 王秀奎 |
| 分类号： | G01N3/40(2006.01)I |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 一种材料氢脆的显微硬度表征方法，其特征在于，该方法包括材料预处理和显微硬度法，采用显微硬度法分别测量未进行阴极保护的试样和在不同阴极保护电位下持续保护24小时后的试样的显微硬度，然后经过对比发现，试样在过保护条件下发生氢脆后表面显微硬度有明显变化。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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