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一种微球及其表面涂层密度的测量方法
| 专利名称： | 一种微球及其表面涂层密度的测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种微球及其表面涂层密度的测量方法，涉及微球测量技术领域。所述方法包括步骤：B：将待测微球倒入进样槽，记录待测微球的数量；C：待测微球从进样槽进入下落装置，对处于下落过程中的待测微球进行动态图像采集；D：对待测微球的图像进行筛选；E：根据待测微球的总质量和数量得到单个待测微球的质量，根据筛选后待测微球的图像计算得到单个待测微球的体积；F：将待测微球的表面设置涂层后，得到包覆微球，对包覆微球重复执行步骤B至E，得到单个包覆微球的质量和体积；G：计算得到待测微球和涂层的密度。所述方法操作简单，人为参与少，能够快速、高精度、无污染的测量微球及其表面涂层密度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 清华大学 |
| 发明人： | 赵宏生;张凯红;刘小雪;李自强;唐春和 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-10-19T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110318993.3 |
| 公开号： | CN102507370A |
| 代理机构： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
| 代理人： | 王莹 |
| 分类号： | G01N9/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱 |
| 主权项： | 一种微球及其表面涂层密度的测量方法，其特征在于，包括步骤：B：将待测微球倒入进样槽，所述待测微球在所述进样槽中滚动时，记录所述待测微球的数量；C：所述待测微球从所述进样槽进入下落装置，对处于下落过程中的所述待测微球进行动态图像采集；D：对所述待测微球的图像进行筛选，得到筛选后待测微球的图像；E：根据所述待测微球的总质量和数量得到单个待测微球的质量，根据筛选后待测微球的图像计算得到单个待测微球的体积；F：将所述待测微球的表面设置涂层后，得到包覆微球，对所述包覆微球重复执行所述步骤B至E，得到单个包覆微球的质 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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