原文传递
基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量方法及装置
| 专利名称： | 基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量方法及装置 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量方法及装置，由Y型腔正交偏振激光器、样品池、工作点选择与控制单元和信号采集与处理单元组成。透明介质抽入或抽出样品池后，Y型腔正交偏振激光器的P子段的折射率会发生改变，从而导致S子腔和P子腔光学长度差的变化，Y型腔正交偏振激光器中S偏振光和P偏振光的拍频频差也将发生变化，该拍频频差的变化值与透明介质的折射率成正比。本发明具有高分辨率、高线性度、直接数字式输出、结构简单、操作方便、快捷等特点。本发明还可用于透明介质折射率的实时监测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖南;43 |
| 申请人： | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
| 发明人： | 龙兴武;肖光宗;张斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-11-02T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110342117.4 |
| 公开号： | CN102507450A |
| 代理机构： | 湖南省国防科技工业局专利中心 43102 |
| 代理人： | 冯青 |
| 分类号： | G01N21/21(2006.01)I |
| 申请人地址： | 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47号 |
| 主权项： | 基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量装置，包括Y型腔正交偏振激光器、样品池、工作点选择与控制单元、信号采集与处理单元，其特征在于：型腔正交偏振激光器包括腔体、第一高反射率镜片、第二高反射率镜片、第三高反射率镜片、偏振分光膜、氦氖放电管、第一压电陶瓷和第二压电陶瓷；腔体包括共用段、S子段和P子段；共用段和S子段采用微晶玻璃材料和钻孔工艺一体化加工，共用一个端面；第一高反射率镜片以光胶的方式贴在共用段的第一端面上，第一压电陶瓷安装在第一高反射率镜片上；第二高反射率镜片以光胶的方式贴在S子段的第一端面上 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
