专利名称: | 一种色谱指纹谱图的相似度测定方法 |
摘要: | 一种色谱指纹谱图的相似度测定方法,包括以下步骤:(一)建立聚合物标准品裂解谱图库:采用裂解气相色谱仪对一系列高聚物标准样品进行检测,规定每次测定样品时所用的色谱条件要与测定高聚物标准样品所采用的色谱条件一致,将检测的实验数据导入后形成聚合物标准品裂解谱图库;(二)实际样品的匹配:A)先选择添加当前谱图,将实际测定的样品数据录入,录入的数据只是暂时储存;对录入数据的保留时间可以进行修正;B)选择要进行比对的标准谱图库,根据之前的建立的谱图库来选择某一个或某几个谱图库与实际测定的样品进行比对;通过夹角余弦来计算相似度s。本发明自动测量、简单方便、精度高。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 浙江工业大学 |
发明人: | 王丽丽;孙杨;潘再法;陈德君 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2011-10-27T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201110331410.0 |
公开号: | CN102507815A |
代理机构: | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 |
代理人: | 王兵;王利强 |
分类号: | G01N30/86(2006.01)I |
申请人地址: | 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区 |
主权项: | 一种色谱指纹谱图的相似度测定方法,其特征在于:所述相似度测定方法包括以下步骤:(一)建立聚合物标准品裂解谱图库:采用裂解气相色谱仪对一系列高聚物标准样品进行检测,规定每次测定样品时所用的色谱条件要与测定高聚物标准样品所采用的色谱条件一致,将检测的实验数据导入后形成聚合物标准品裂解谱图库;(二)实际样品的匹配:A)先选择添加当前谱图,将实际测定的样品数据录入,录入的数据只是暂时储存;对录入数据的保留时间可以进行修正,有以下两种修正的方法:1)通过保留时间修正:是指设定一个具体数值b后,将录入的实际测定的样品 |
所属类别: | 发明专利 |