专利名称: | 一种痕量、快速检测多氯联苯的电化学方法 |
摘要: | 本发明公开了一种痕量、快速检测多氯联苯的电化学方法,其主要是通过籽晶层的制备、电化学沉积和循环伏安曲线扫描测试三个步骤快速检测多氯联苯的含量。本发明制备方法操作方便,设备简单,成本低廉,只需要银纳米电极与电化学工作站相连,在含有多氯联苯的电解液中形成回路即可进行检测,这种检测方法在实现了快速、准确、高效检测环境中痕量的持久性有机污染物。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 安徽;34 |
申请人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
发明人: | 梁长浩;蔡云雨;张和民;盛翠翠 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2011-10-11T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201110306164.3 |
公开号: | CN102507710A |
代理机构: | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 |
代理人: | 余成俊 |
分类号: | G01N27/48(2006.01)I |
申请人地址: | 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号 |
主权项: | 一种痕量、快速检测多氯联苯的电化学方法,其特征在于包括以下步骤:(1)籽晶层的制备:将0.5?ml,?55?65?mM?硝酸银和1?ml,?30?40?mM柠檬酸钠注入95?105?ml去离子水中,迅速搅拌2?3分钟,再将0.5?ml,?0.015?0.025?M硼氢化钠注入以上溶液中,搅拌8?12分钟,在室温下老化15?25小时,利用旋涂仪,将体积为10?μL的籽晶胶体溶液旋涂在干净的ITO衬底上,旋涂的面积为1?cm2左右,放入烘箱,在35?45℃下蒸发,只将籽晶留在ITO衬底上;(2)电化学沉积生长 |
所属类别: | 发明专利 |