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适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统
| 专利名称： | 适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，包括冷光源、第一、第二、第三入射狭缝、第一、第二汇聚透镜、滤光片转换器、光电探测器、卤素灯和第一滤光片，冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、第三入射狭缝、光电探测器依次同轴设置在X轴上，第一入射狭缝与第二入射狭缝之间放置装有待检测物质的检测管，第一汇聚透镜与第三入射狭缝之间设置安装有第二滤光片和第三滤光片的滤光片转换器，卤素灯、第一滤光片、第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上。本发明可同时进行吸收光检测和荧光检测，在两种检测进行的过程中，检测管不用移动，通过本发明得到的检测结果准确性高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京国科华仪科技有限公司 |
| 发明人： | 范宏艳 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-29T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110449280.0 |
| 公开号： | CN102519881A |
| 代理机构： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 |
| 代理人： | 赵郁军 |
| 分类号： | G01N21/17(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100097 北京市海淀区蓝靛厂东路2号院2号楼（金源时代商务中心2号楼）3单元（C座）9E |
| 主权项： | 一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，其特征在于：它包括冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、滤光片转换器、第三入射狭缝、光电探测器、卤素灯、第一滤光片和第二汇聚透镜，该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器依次同轴设置在X轴上，该第一入射狭缝与该第二入射狭缝之间放置检测管，该第一汇聚透镜与该第三入射狭缝之间设置有该滤光片转换器，该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上，其中：该检测管中装有待检测物质，该待检测物质包括通过 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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