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伪双能欠采样物质识别系统和方法
| 专利名称： | 伪双能欠采样物质识别系统和方法 |
| 摘要： | 公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人： | 张丽;陈志强;刘圆圆;邢宇翔;赵自然 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-05-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110349492.1 |
| 公开号： | CN102519989A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 王波波 |
| 分类号： | G01N23/04(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100084 北京市海淀区清华园1号 |
| 主权项： | 一种伪双能系统中的欠采样物质识别方法，包括：利用第一层探测器扫描得到的投影数据重建出被检测物体的CT图像，并利用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记；利用第二层少量几个探测器获得的投影数据实现双能量物质识别成像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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