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原文传递 物质识别系统中的实时标定设备和方法
专利名称: 物质识别系统中的实时标定设备和方法
摘要: 公开了一种用于高能X射线双能成像集装箱检查系统的实时标 定设备和方法,涉及辐射成像领域。该方法包括:发射具有第一能量 的第一主射线束和第一辅射线束,和具有第二能量的第二主射线束和 第二辅射线束;使第一主射线束和第二主射线束透射被检物体;使第 一辅射线束和第二辅射线束透射至少一个实时标定材料块;采集透射 被检物体的第一主射线束和第二主射线束的值,作为双能数据;采集 透射实时标定材料块的第一辅射线束和第二辅射线束的值,作调整参 数;基于该调整参数对该组分类参数进行调整;以及根据调整后的分 类参数对双能数据进行材料识别处理。本发明简化了高能双能系统的 物质识别分系统的标定流程,提升了系统的材料分辨效果的稳定性。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
发明人: 胡海峰;康克军;张 丽;王学武;黄清萍;李元景;刘以农;赵自然;武 祯
专利状态: 有效
申请日期: 2008-06-27T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200810115788.5
公开号: CN101614683
代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
代理人: 王波波
分类号: G01N23/087(2006.01)I
申请人地址: 100084北京市海淀区清华大学
主权项: 1、一种物质识别系统中的实时标定方法,该物质识别系统基于 一组分类参数对被检物体的物质进行识别,该方法包括步骤: 发射具有第一能量的第一主射线束和第一辅射线束,和具有第二 能量的第二主射线束和第二辅射线束; 使第一主射线束和第二主射线束透射被检物体; 使第一辅射线束和第二辅射线束透射至少一个实时标定材料块; 采集透射被检物体的第一主射线束和第二主射线束的值,作为双 能数据; 采集透射实时标定材料块的第一辅射线束和第二辅射线束的值, 作调整参数; 基于该调整参数对该组分类参数进行调整;以及 根据调整后的分类参数对双能数据进行材料识别处理。
所属类别: 发明专利
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