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原文传递物质结构实时探测装置和方法

专利名称：	物质结构实时探测装置和方法
摘要：	本发明提供一种物质结构实时探测装置，包括：激光源，用于输出功率达到拍瓦量级或以上的激光束；分束器，用于将所述激光束分成激光探测光束和泵浦光束；分束单元，用于将所述激光探测光束转换成同轴传输的激光探测脉冲序列；靶，用于将所述激光探测脉冲序列转换成X射线探测脉冲序列；脉冲间隔测量装置，用于测量所述X射线探测脉冲序列中相邻X射线脉冲之间的时间间隔；以及衍射信号记录仪，用于采集所述泵浦光束和所述X射线探测脉冲序列作用在待测样品上时产生的衍射信号。本发明的物质结构实时探测装置在实现实时探测的基础上极大地提高了数据采集效率。
专利类型：	发明专利
申请人：	中国科学院物理研究所
发明人：	朱常青;王进光;陈黎明
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T13:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T19:00:00+0805
申请号：	CN202010030422.9
公开号：	CN111175328A
代理机构：	北京泛华伟业知识产权代理有限公司
代理人：	王勇
分类号：	G01N23/207;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/207
申请人地址：	100190 北京市海淀区中关村南三街8号
主权项：	1.一种物质结构实时探测装置，包括：激光源，用于输出功率达到拍瓦量级或以上的激光束；分束器，用于将所述激光束分成激光探测光束和泵浦光束；分束单元，用于将所述激光探测光束转换成同轴传输的激光探测脉冲序列；靶，用于将所述激光探测脉冲序列转换成X射线探测脉冲序列；脉冲间隔测量装置，用于测量所述X射线探测脉冲序列中相邻X射线探测脉冲之间的时间间隔；以及衍射信号记录仪，用于采集所述泵浦光束和所述X射线探测脉冲序列作用在待测样品上时产生的衍射信号。 2.根据权利要求1所述的物质结构实时探测装置，其中，所述激光探测脉冲序列包括8束激光探测脉冲、16束激光探测脉冲或者32束激光探测脉冲。 3.根据权利要求1所述的物质结构实时探测装置，其中，所述激光源为拍瓦钛宝石激光器。 4.根据权利要求1所述的物质结构实时探测装置，其中，所述分束单元包括多个分束镜和多个延时器，所述多个延时器的每一个分别设置在相邻的分束镜之间。 5.根据权利要求1所述的物质结构实时探测装置，其中，所述靶为固体靶、液滴靶或气体靶。 6.根据权利要求5所述的物质结构实时探测装置，其中，所述固体靶为铜靶。 7.根据权利要求1所述的物质结构实时探测装置，其中，所述脉冲间隔测量装置用于测量所述激光探测脉冲序列中相邻激光探测脉冲之间的时间间隔，继而得到所述X射线探测脉冲序列中相邻X射线探测脉冲之间的时间间隔。 8.根据权利要求1-7中任一项所述的物质结构实时探测装置，还包括数据处理单元，其基于所述衍射信号获得待测样品的物质结构信息。 9.一种物质结构实时探测方法，包括如下步骤：分束步骤：将输入的功率达拍瓦量级或以上的激光束分成激光探测光束和泵浦光束；激光探测脉冲序列产生步骤：将所述激光探测光束转换成同轴传输的激光探测脉冲序列； X射线探测脉冲序列产生步骤：将所述激光探测脉冲序列转换成X射线探测脉冲序列；脉冲间隔测量步骤：测量所述X射线探测脉冲序列中相邻X射线探测脉冲之间的时间间隔；以及衍射信号采集步骤：采集所述泵浦光束和所述X射线探测脉冲序列作用在待测样品上时产生的衍射信号。 10.根据权利要求9所述的物质结构实时探测方法，其中，所述激光探测脉冲序列包括8束激光探测脉冲、16束激光探测脉冲或者32束激光探测脉冲。
所属类别：	发明专利