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原文传递缺陷探测装置和探测方法

专利名称：	缺陷探测装置和探测方法
摘要：	本发明涉及燃料电池的技术领域，公开了缺陷探测装置和探测方法，用于探测CCM膜电极的表面缺陷，缺陷探测装置包括：用于提供平行光源的光源结构、光敏电阻以及用于通过所述光敏电阻电信号判断缺陷情况的处理装置，所述CCM膜电极位于所述光源结构和所述光敏电阻之间且铺设于所述光源结构端面。本发明中的缺陷探测装置和探测方法通过光线的变化探测CCM膜电极上是否存在缺陷，具有探测精度高的特点。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市南科燃料电池有限公司
发明人：	谢小军;李佳佳;蒋晓强;黄鹏辉;陶有堃;朱为民;李辉
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-24T00:00:00+0800
申请号：	CN201910055681.4
公开号：	CN109799237A
代理机构：	深圳市韦恩肯知识产权代理有限公司
代理人：	黄昌平
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518112 广东省深圳市龙岗区吉华街道甘李二路11号中海信创新产业城18B栋1204单元
主权项：	1.缺陷探测装置，用于探测CCM膜电极的表面缺陷，其特征在于，包括：用于提供平行光源的光源结构、光敏电阻以及用于通过所述光敏电阻电信号判断缺陷情况的处理装置，所述CCM膜电极位于所述光源结构和所述光敏电阻之间且铺设于所述光源结构端面。 2.如权利要求1所述的缺陷探测装置，其特征在于，还包括用于沿所述CCM膜电极端面移动所述光敏电阻的驱动结构。 3.如权利要求2所述的缺陷探测装置，其特征在于，所述驱动结构包括机械手臂，所述机械手臂在数控程序控制下按照一定路径带动所述光敏电阻完整扫描所述CCM膜电极端面。 4.如权利要求1至3任一项所述的缺陷探测装置，其特征在于，所述处理装置包括计算机和显示器，所述计算机处理所述电信号形成图像，并显示在所述显示器上。 5.如权利要求1至3任一项所述的缺陷探测装置，其特征在于，还包括底座，所述光源结构放置于所述底座上。 6.如权利要求1至3任一项所述的缺陷探测装置，其特征在于，所述光源结构为LED平行光源。 7.如权利要求1至3任一项所述的缺陷探测装置，其特征在于，还包括用于防止外部光源干扰的外壳。 8.探测方法，用于探测CCM膜电极端面的缺陷，其特征在于，包括以下步骤：以平行光源照射所述CCM膜电极；光敏电阻检测所述CCM膜电极端面的光线，并输出电信号；处理装置接受所述电信号，计算处理后判断所述CCM膜电极的缺陷情况。 9.如权利要求8所述的探测方法，其特征在于，还包括以下步骤：驱动所述光敏电阻沿所述CCM膜电极端面以一定路径移动，使其扫描所述CCM膜电极的整个端面，并且记录发生电信号时对应的位置坐标。 10.如权利要求9所述的探测方法，其特征在于，还包括以下步骤：所述处理装置包括计算机和显示器，所述计算机通过所述电信号以及所述位置坐标还原为二维或三维缺陷图像，显示在所述显示器上。
所属类别：	发明专利