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原文传递 提升ITO层空穴注入效率的方法和显示器件的阳极结构
专利名称: 提升ITO层空穴注入效率的方法和显示器件的阳极结构
摘要: 本发明提供一种提升ITO层空穴注入效率的方法和显示器件的阳极结构,所述方法应用于显示器件的阳极制作工艺中,包括:提供一预设有ITO区域的半导体结构;在位于所述ITO区域的半导体结构的上表面制备一ITO层;对所述ITO层进行预热后,于该ITO层的表面制备氧化石墨烯薄膜。所述阳极结构包括一具有ITO层的衬底结构,且该ITO层的上表面覆盖有一层氧化石墨烯。本发明方法通过在普通的ITO层上制备一层氧化石墨烯,形成新的阳极结构,使得ITO层的功函数增加,提升了空穴的注入效率,降低了驱动电压,进而能够增加显示器件的稳定性和使用寿命。
专利类型: 发明专利
申请人: 上海和辉光电有限公司
发明人: 孙一歌;康嘉滨;鲁海生;胡友元
专利状态: 有效
申请日期: 2014-02-27T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201410070215.0
公开号: CN103824975A
代理机构: 上海申新律师事务所 31272
代理人: 吴俊
分类号: H01L51/56(2006.01)I
申请人地址: 201506 上海市金山区工业区大道100号1幢二楼208室
主权项: 一种提升ITO空穴注入效率的方法,应用于显示器件的阳极制作工艺中,所述方法包括:提供一预设有ITO区域的半导体结构;在位于所述ITO区域的半导体结构的上表面制备一ITO层;对所述ITO层进行预热;于该ITO层的表面制备氧化石墨烯薄膜。
所属类别: 发明专利
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